Приложение 1 (справочное). Наименование и краткие характеристики аппаратуры, используемой при контроле содержания наноматериалов методом электронной микроскопии

Приложение 1
(справочное)

Наименование и краткие характеристики
аппаратуры, используемой при контроле содержания наноматериалов методом электронной микроскопии

Для выявления и идентификации наночастиц методом электронной микроскопии могут использоваться электронные микроскопы фирм Цейс (Zeiss, Германия) и Джеол (Jeol, Япония) из списка, приведенного ниже (по состоянию на начало 2010 г), а также электронные микроскопы других производителей с характеристиками, соответствующими требованиям п. 6.1.1.

Электронные микроскопы фирм Цейс (Zeiss, Германия)

1. Просвечивающий электронный микроскоп, модель LEO 912AB. Ускоряющее напряжение 120 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,34 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений до 80 до 500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 1,5 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС.

2. Просвечивающий электронный микроскоп, модели Libra 120 и Libra 120 Plus. Ускоряющее напряжение 120 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,34 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений до 8 до 630 000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 1,5 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС.

3. Просвечивающий электронный микроскоп, модели Libra 200 FE HR и Libra 200 FE HT. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,24 нм (по паспорту Libra 200 FE HR), 0,29 нм (по паспорту Libra 200 FE HТ) и диапазоном увеличений до 8 до 1 000 000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС.

4. Просвечивающий электронный микроскоп, модели Libra 200 МС HR и Libra 200 МС HT. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,24 нм (по паспорту Libra 200 МС HR), 0,29 нм (по паспорту Libra 200 МС HТ) и диапазоном увеличений до 8 до 1 000 000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,2 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС.

Электронные микроскопы фирмы ДЖЕОЛ (JEOL, Япония):

1. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-1230. Ускоряющее напряжение 120 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,38 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 50 до 800 000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 1,5 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.

2. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-1400. Ускоряющее напряжение 120 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,38 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 50 до 1200000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 1,5 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.

3. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-2100. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,19 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 50 до 1200000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 1,5 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.

4. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-2100F. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,19 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 50 до 1200000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.

5. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-2200FS. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,19 нм (0,07 нм с включенным корректором аберраций) и диапазоном увеличений от 50 до 1500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.

6. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-ARM200F. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,08 нм (СПЭМ) / 0,11 нм (ПЭМ) и диапазоном увеличений от 50 до 2000000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.

7. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-3100F. Ускоряющее напряжение 300 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,17 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 60 до 1500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.

8. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-3200FS. Ускоряющее напряжение 300 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,17 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 100 до 1500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.

9. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-ARM1300. Ускоряющее напряжение 1300 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,1 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 200 до 1500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 1,5 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.