Приложение 1. Определение интенсивности освещения образцов

Приложение 1

Определение интенсивности освещения образцов

Для определения освещенности образцов, помещенных в АПИ, замеряют интенсивность световой радиации на их поверхности. Результаты таких замеров служат только для выявления общей картины распределения светового потока в пространстве, поэтому должны применяться приборы, чувствительные в ультрафиолетовой и видимой или только в видимой частях спектра: пиранометр Янишевского, селеновый фотоэлемент и др.

При замерах датчик устанавливают в плоскости образца. При определении интенсивности света, падающего на образец, необходимо провести не менее четырех замеров по высоте зоны облучения в 10 точках, равно отстоящих друг от друга, на половине окружности барабана.

При замере освещенности образцов в АИП с угольными дуговыми лампами следует учитывать влияние загрязненности колпаков и изменения положения центра горящей дуги (максимум освещенности) по мере сгорания углей. Для этого указанные замеры следует производить несколько раз через равные промежутки времени, начиная от установки новых углей и до их сгорания. За результат определения принимают среднее арифметическое проведенных замеров.

Для осуществления замеров в АИП рекомендуется применять селеновый фотоэлемент, чувствительный в свету в области длин волн 290-700 нм. При этом необходимо соблюдать условие прямой пропорциональности между величиной фототока I и интенсивностью света Е. В этом случае произведение , где l - расстояние между источником излучения и рабочей поверхностью фотоэлемента. Для выполнения указанного условия при большой интенсивности света, падающего на фотоэлемент, применяют зачерненные металлические сетки, которые устанавливают перед фотоэлементом для уменьшения количества световой энергии, падающей на рабочую поверхность. Тогда

,

где - величина ослабленного фототока;

k - степень ослабления освещенности рабочей поверхности фотоэлемента за счет сеток.