Приложение 1. Определение интенсивности освещения образцов

Приложение 1

Определение интенсивности освещения образцов

Для определения освещенности образцов, помещенных в АПИ, замеряют интенсивность световой радиации на их поверхности. Результаты таких замеров служат только для выявления общей картины распределения светового потока в пространстве, поэтому должны применяться приборы, чувствительные в ультрафиолетовой и видимой или только в видимой частях спектра: пиранометр Янишевского, селеновый фотоэлемент и др.

При замерах датчик устанавливают в плоскости образца. При определении интенсивности света, падающего на образец, необходимо провести не менее четырех замеров по высоте зоны облучения в 10 точках, равно отстоящих друг от друга, на половине окружности барабана.

При замере освещенности образцов в АИП с угольными дуговыми лампами следует учитывать влияние загрязненности колпаков и изменения положения центра горящей дуги (максимум освещенности) по мере сгорания углей. Для этого указанные замеры следует производить несколько раз через равные промежутки времени, начиная от установки новых углей и до их сгорания. За результат определения принимают среднее арифметическое проведенных замеров.

Для осуществления замеров в АИП рекомендуется применять селеновый фотоэлемент, чувствительный в свету в области длин волн 290-700 нм. При этом необходимо соблюдать усл