Приложение П (обязательное). Особенности и порядок проведения ВК и ДИ ЭКБ ОП и ЭКБ ИП

Приложение П
(обязательное)

Особенности и порядок проведения ВК и ДИ ЭКБ ОП и ЭКБ ИП

П.1 Организация и порядок проведения ВК и ДИ ЭКБ ОП

П.1.1 ВК и ДИ ЭКБ ОП проводят с целью выявления изделий (компонентов) ЭКБ, не соответствующих требованиям паспорта и (или) ТУ и (или) имеющих скрытые дефекты.

П.1.2 ЭКБ ОП, поставляемая на ВК и (или) ДИ, должна:

- относиться к одной партии изделий;

- иметь сопроводительную документацию с обозначением документа на поставку, требованиям которого она должна удовлетворять.

П.1.3 ВК ЭКБ ОП должен проводиться в соответствии с требованиями ГОСТ 24297.

П.1.4 ВК подвергаются все изделия ЭКБ из партии.

Примечание - В отдельных технически обоснованных случаях (например, при необходимости повторного проведения ВК, ДИ, поступлении большого объема партии ЭКБ, наличии малых габаритов у испытуемых изделий, отсутствии в ИТЦ (ИТЛ) устройства для упаковывания малогабаритных изделий (компонентов) ЭКБ и пр.) по согласованию с заказчиком допускается проведение ВК и/или ДИ на выборке.

П.1.5 ДИ подвергаются все изделия (компоненты) ЭКБ, прошедшие ВК с положительными результатами, за вычетом выборки на РФА.

П.1.6 РФА подвергается выборка ЭКБ, прошедшая ВК с положительными результатами. Объем выборки ЭКБ на РФА должен быть достаточным для подтверждения качества партии изделий. Рекомендуемый объем выборки - не менее двух штук для диодов и реле, не менее четырех штук для транзисторов и микросхем.

П.1.7 Внутренний визуальный контроль в рамках РФА проводят не менее чем на двух изделиях ЭКБ на соответствие требованиям отраслевой нормативно-технической документации.

П.1.8 В случае неоднозначного результата испытаний, для подтверждения качества партии по решению генерального (главного) конструктора РЭА РКТ могут быть использованы дополнительные изделия (компоненты) ЭКБ из партии.

П.1.9 ВК и/или ДИ изделий (компонентов) ЭКБ проводят на основе программы испытаний, которую предоставляет заказчик ВК и/или ДИ или разрабатывает ИТЦ (ИТЛ), на основании анализа требований ТЗ и действующих национальных стандартов, регламентирующих порядок проведения испытаний (в частности, ГОСТ 20.57.406 и т.д.).

П.1.10 Программа ВК и/или ДИ должна содержать:

- цель и задачи испытаний изделий ЭКБ;

- тип испытываемой ЭКБ (например, микросхема, диод и т.д.);

- объем выборки на РФА;

- условия, режимы, порядок, место, виды и этапы проведения испытаний;

- метрологическое обеспечение ВК и/или ДИ;

- критерии отбраковки изделий ЭКБ;

- перечень отчетной документации;

- иные положения, позволяющие конкретизировать процедуру проведения ВК и/или ДИ;

- приложения (при необходимости).

П.1.11 Программу проведения ВК и/или ДИ составляют в произвольной форме.

П.1.12 Объем ВК, ДИ, который рекомендуется включать в программу испытаний для интегральных микросхем, микросборок и полупроводниковых приборов, представлен в таблице П.1

Таблица П.1 - Виды испытаний, которые рекомендуется включать в программу ВК и/или ДИ ЭКБ ОП

Вид испытания	Наименование испытания
ВК	Контроль сопроводительной документации
	Проверка внешнего вида
	Сериализация (присвоение изделию ЭКБ ОП индивидуального порядкового номера)
	Контроль электрических параметров и функционирования в нормальных климатических условиях
ДИ (в части неразрушающих испытаний)	Испытание на воздействие повышенной рабочей температуры среды
	Испытание на воздействие пониженной рабочей температуры среды
	Испытание на воздействие изменения температуры среды (термоциклирование)
	Контроль информативных параметров по ужесточенным нормам
	Электротермотренировка (термотренировка)
	Оценка дрейфа информативных параметров после проведения электротермотренировки
	Контроль свободно перемещающихся частиц внутри корпуса по уровню шума
	Контроль герметичности
ДИ (в части РФА)	Контроль качества маркировки
	Контроль содержания паров воды в подкорпусном пространстве
	Внутренний визуальный контроль
	Испытание сварных соединений на прочность
	Испытание выводов на воздействие растягивающей силы
	Испытание прочности кристалла на сдвиг
	Испытание на способность к пайке
	Растровая электронная микроскопия

П.1.13 Для каждой испытываемой партии изделий (компонентов) ЭКБ ОП оформляют в бумажном и/или электронном виде маршрутный лист ВК и/или ДИ в соответствии с программой ВК и/или ДИ. Форма составления маршрутного листа ВК и/или ДИ - произвольная.

П.1.14 В маршрутном листе ВК и/или ДИ указывают:

- наличие изделия ЭКБ в утвержденном перечне ЭКБ, разрешенной к применению в изделии (системе, комплексе) РКТ;

- состав и последовательность проведения конкретных видов испытаний;

- результаты проведения испытаний с указанием количества признанных годными и забракованных изделий ЭКБ;

- даты проведения испытаний, фамилии и подписи ответственных исполнителей (допускается применять электронные подписи исполнителей).

П.1.15 При проведении ВК и/или ДИ партии ЭКБ забракованные изделия извлекают из партии, а остальные - признают годными.

П.1.16 При проведении ВК и (или) ДИ на выборке из партии изделий (компонентов) ЭКБ в программу ВК и/или ДИ включают нормы допустимого процента отказов (приемочные числа) для отбраковки партии. При превышении норм допустимого процента отказов (приемочных чисел) всю партию ЭКБ подвергают сплошному ВК и/или ДИ, при этом все забракованные изделия извлекают из партии, а остальные - признают годными.

П.1.17 По результатам проведения ВК и/или ДИ ИТЦ (ИТЛ) оформляет Протокол испытаний для каждой партии ЭКБ ОП.

П.1.18 Протокол ВК и/или ДИ должен содержать:

- реквизиты ИТЦ, ИТЛ (полное наименование, юридический и/или фактический адреса, номер телефона и/или факса, адрес электронной почты), в котором проводились испытания;

- наименование испытываемых изделий (компонентов) ЭКБ ОП с указанием партии, даты изготовления и предприятия-изготовителя;

- основания для проведения ВК и/или ДИ (например, номер договора или решения);

- количество изделий (компонентов) ЭКБ, предъявленных на ВК и/или ДИ;

- объем проведенных испытаний с указанием методов и условий их проведения;

- результаты проведения ВК и/или ДИ;

- даты проведения конкретных видов испытаний в рамках ВК и/или ДИ;

- фамилии и подписи ответственных исполнителей.

П.1.19 По требованию заказчика ИТЦ (ИТЛ) также оформляет заключение по результатам ВК и/или ДИ изделий ЭКБ. В Заключении должно быть указано:

- наименование (номер) программы, в соответствии с которой проводились ВК и/или ДИ;

- сроки проведения ВК и/или ДИ;

- обозначение и/или наименование РЭА РКТ, в которой будут применяться испытуемые изделия (компоненты) ЭКБ;

- функциональное обозначение, типы изделий (компонентов) ЭКБ, предъявленных на ВК и/или ДИ, а также название предприятия-изготовителя;

- количество изделий (компонентов) ЭКБ, предъявленных на ВК и/или ДИ;

- номер маршрутного листа ВК и/или ДИ;

- результаты проведения ВК и/или ДИ (количество признанных годными и забракованных изделий (компонентов) ЭКБ);

- фамилии и подписи ответственных исполнителей;

- иные положения, позволяющие конкретизировать процессы проведения ВК и/или ДИ.

Примечания

1 Форма составления заключения по результатам ВК и/или ДИ - произвольная.

2 Обозначение и/или наименование РЭА РКТ присваиваются потребителем ЭКБ.

П.1.20 Если ВК и/или ДИ проводились на выборке из партии изделий (компонентов) ЭКБ, то данные изделия после проведения ВК и/или ДИ к установке в РЭА РКТ не допускаются и предоставляются потребителю ЭКБ только по его требованию.

П.1.21 При выявлении в ходе ВК и/или ДИ брака или некомплектности поставки изделий ЭКБ ИТЦ (ИТЛ) оформляют акт рекламации. Проведение рекламационных работ осуществляет потребитель ЭКБ.

П.2 Особенности проведения ВК и ДИ ЭКБ ИП

П.2.1 ВК и ДИ ЭКБ ИП проводят с целью выявления изделий (компонентов), не соответствующих требованиям технических спецификаций (информационно-техническим материалам) предприятия-изготовителя и/или имеющих скрытые дефекты.

П.2.2 Предъявляемая на ВК и/или ДИ ЭКБ ИП должна относиться к одной партии. ЭКБ ИП предъявляется на ВК и/или ДИ совместно с сопроводительной документацией.

Примечание - Вид и объем сопроводительной документации определяется исходя из категории качества ЭКБ ИП.

П.2.3 Наряду с сопроводительной документацией рекомендуется предъявлять ЭКБ ИП на ВК и/или ДИ с информационно-техническими материалами, содержащими технические характеристики и условия эксплуатации ЭКБ ИП, регламентированные предприятием-изготовителем, а также и другую официальную информацию, необходимую для проведения ВК и/или ДИ.

П.2.4 Для каждой испытываемой партии изделий (компонентов) ЭКБ ИП оформляют маршрутный лист ВК и/или ДИ в соответствии с таблицей П.2.

Таблица П.2 - Маршрутный лист ВК и/или ДИ ЭКБ ИП

Категория ЭКБ ИП	Основание для составления маршрутного листа ВК и/или ДИ
ЭКБ ИП без заданного уровня качества (надежности)	Программа ВК и/или ДИ
Высоконадежная ЭКБ ИП всех категорий качества	Анализ соответствия представленной сопроводительной документации требованиям, приведенным в программе ВК и/или ДИ

П.2.5 Указания по проведению анализа соответствия ЭКБ ИП программе ВК и/или ДИ (результаты проведения анализа оформляются в виде таблицы П.3).

П.2.5.1 В графе "Наименование вида испытаний" перечисляют все виды испытаний, указанные в программе ВК и/или ДИ.

Примечание - В качестве примера - испытания на воздействие пониженной (повышенной) рабочей температуры окружающей среды, электротермотренировка (термотренировка), контроль функционирования при пониженном напряжении питания, контроль свободно перемещающихся частиц внутри корпуса по уровню шума и др.

Таблица П.3 - Результаты анализа соответствия ЭКБ ИП программе ВК и/или ДИ

Наименование вида испытаний	Условия испытания изделия ЭКБ ИП		Требования к проведению испытаний
	Согласно программе ВК и/или ДИ	Согласно сопроводительной документации изготовителя
1 Испытания на воздействие пониженной рабочей температуры окружающей среды	минус 40 °С (по технической спецификации)	минус 40 °С	Не требуются
2 Испытания на воздействие повышенной рабочей температуры окружающей среды	плюс 50 °С (по технической спецификации)	плюс 125 °С	Не требуются
3 Электротермотренировка	168 ч в предельно допустимом режиме	Нет данных	Требуется

П.2.5.2 В графе "Согласно программе ВК и/или ДИ" указывают значения параметров, которые должны быть подтверждены в процессе проведения ВК и/или ДИ согласно программе.

П.2.5.3 В графу "Согласно сопроводительной документации изготовителя" записывают результаты испытаний, указанные предприятием - изготовителем ЭКБ ИП в сопроводительной документации. При отсутствии в сопроводительной документации результатов соответствующих испытаний в данной графе указывают "нет данных".

П.2.5.4 В графу "Требования к проведению испытаний" записывают вывод о необходимости проведения того или иного вида испытаний, предусмотренного программой ВК и/или ДИ.

П.2.5.5 Если результат испытаний, приведенный в сопроводительной документации предприятия - изготовителя ЭКБ ИП, соответствует (превышает) требованиям, предусмотренным программой ВК и/или ДИ, испытания проводить не требуется.

П.2.5.6 В случае несоответствия результатов, приведенных в сопроводительной документации, требованиям, предусмотренным программой ВК и/или ДИ (или при отсутствии необходимых данных), делается вывод о необходимости проведения испытаний.

П.2.6 При полном соответствии результатов, приведенных в сопроводительной документации, требованиям, предусмотренным программой ВК и/или ДИ, в маршрутный лист ВК и/или ДИ включают:

- контроль внешнего вида и проверку сопроводительной документации (для квалифицированной высоконадежной ЭКБ ИП);

- контроль электрических параметров в нормальных климатических условиях (для неквалифицированной высоконадежной ЭКБ ИП).

П.2.7 В программы ВК и/или ДИ изделий ЭКБ ИП в обязательном порядке включают нижеследующие мероприятия, имеющие целью выявление контрафактной продукции:

- проверка качества маркировки изделий (отсутствие перемаркировки, положение маркировки, ее контрастность, целостность, размер, цвет и пр.);

- проверка информативной составляющей маркировки (соответствие наименования изделия, его даты производства, номера партии официальным данным предприятия-изготовителя);

- проверка внешнего вида (наличие у изделий (компонентов) ЭКБ ИП сколов, трещин, царапин, различных штампов стран-производителей, повреждения выводов, следов пайки, коррозии, различных формовок выводов или количества выводов и пр.);

- проверка конструктивно-технологических параметров (массы изделия, габаритов изделия и кристалла, разварки выводов и кристалла, идентификационного кода кристалла заявленному предприятием-изготовителем).

П.2.8 В случаях отсутствия в сопроводительной документации предприятия - изготовителя ЭКБ ИП, технической спецификации или информационно-техническом материале информации о параметрах изделия (компонента) ЭКБ ИП (например, массы изделия или размеров его кристалла) проводят сравнительный анализ испытуемого изделия (компонента) ЭКБ ИП с аналогичным изделием (компонентом) ЭКБ ИП, подлинность которого документально подтверждена.