Приложение ДА (справочное). Пример проведения испытаний бесконтактного интерфейса на испытательном комплексе Keolabs (АО "Ангстрем-Т")

Приложение ДА
(справочное)

Пример
проведения испытаний бесконтактного интерфейса на испытательном комплексе Keolabs (АО "Ангстрем-Т")

Испытательный комплекс Keolabs (см. рисунок ДА.1) предназначен для испытаний бесконтактного интерфейса как eMRTD при разных значениях напряженностей электромагнитного поля и разных скоростях передачи данных, так и PCD.

Рисунок ДА.1 - Внешний вид испытательного комплекса Keolabs

С помощью испытательного комплекса Keolabs проводят испытание бесконтактного интерфейса в соответствии с ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-6, ГОСТ Р ИСО/МЭК 14443-1, ГОСТ Р ИСО/МЭК 14443-2, ГОСТ Р ИСО/МЭК 14443-3.

Испытательный комплекс Keolabs состоит из усилителя сигнала, анализатора протоколов, осциллографа и специальной тестовой оснастки.

Испытательный комплекс Keolabs позволяет осуществлять:

- выбор времени нарастания и спада фронта;

- исследование частоты резонанса;

- выбор уровня модуляции;

- настройку скорости передачи данных;

- проверку работы при различных уровнях напряженности электромагнитного поля (от 0,5 до 12,5 А/м);

- проверку глубины модуляции.

Испытания проводят при разных значениях температуры: от минус 25 °С до 85 °С.

По окончании испытаний формируется файл отчета (см. рисунок ДА.2) вместе с лог-файлами (см. рисунки ДА.3 - ДА.5), в которых указаны положительные и отрицательные результаты испытаний. Анализ лог-файлов позволяет выявить причину получения отрицательного результата испытания.

Название теста в соответствии с 10373-6	Описание теста	Значение нижней полосы пропускания	Значение верхней полосы пропускания	Результат
S_PICC_A_LMA_S1_001	Тестирование глубины модуляции при Н = 1,5 А/м. Ожидаемый результат: значение нижней полосы пропускания и USB > 18,44 мВ	46,80	56,70	Тест пройден
S_PICC_A_LMA_S1_002	Тестирование глубины модуляции при Н = 2,5 А/м. Ожидаемый результат: значение нижней полосы пропускания и USB > 9,99 мВ	55,00	60,30	Тест пройден
S_PICC_A_LMA_S1_003	Тестирование глубины модуляции при Н = 3,5 А/м. Ожидаемый результат: значение нижней полосы пропускания и USB > 6,67 мВ	57,00	59,80	Тест пройден
S_PICC_A_LMA_S1_004	Тестирование глубины модуляции при Н = 4,5 А/м. Ожидаемый результат: значение нижней полосы пропускания и USB > 4,93 мВ	52,22	54,70	Тест пройден
S_PICC_A_LMA_S1_005	Тестирование глубины модуляции при Н = 5,5 А/м. Ожидаемый результат: значение нижней полосы пропускания и USB > 3,87 мВ	49,80	51,70	Тест пройден
S_PICC_A_LMA_S1_006	Тестирование глубины модуляции при Н = 6,5 А/м. Ожидаемый результат: значение нижней полосы пропускания и USB > 3,17 мВ	48,90	49,90	Тест пройден
S_PICC_A_LMA_S1_007	Тестирование глубины модуляции при Н = 7,5 А/м. Ожидаемый результат: значение нижней полосы пропускания и USB > 2,67 мВ	47,10	47,80	Тест пройден

Рисунок ДА.2 - Пример файла отчета с результатами испытаний на испытательном комплексе Keolabs

Рисунок ДА.3 - Пример лог-файла с зависимостью глубины модуляции от напряженности электромагнитного поля

Рисунок ДА.4 - Пример лог-файла с временами спада и нарастания фронтов

Рисунок ДА.5 - Пример лог-файла с длительностями команд и тестовых последовательностей