Приложение Г (справочное). Метод измерения коэффициента эллиптичности фазовой пластины

Приложение Г
(справочное)

Метод измерения коэффициента эллиптичности фазовой пластины

Г.1 Проводят подготовку к измерениям по 5.3.1-5.3.5.

Г.2 Устанавливают перед столиком фазовую пластину, закрепленную в карданной оправе таким образом, чтобы пучок лазерного излучения, отраженный от пластины, проходил через отверстие диафрагмы.

Г.3 Ставят на рельс анализатор, вращая, устанавливают его в параллельное положение по отношению к поляризатору и добиваются максимального значения сигнала на выходе приемника по регистрирующему устройству.

Г.4 Поворачивая анализатор, устанавливают его в скрещенное положение по отношению к поляризатору и добиваются минимального значения сигнала на выходе приемника по регистрирующему устройству.

Г.5 Отношение измеренных значений сигналов (при параллельном и скрещенном положениях анализатора и поляризатора) принимают за коэффициент эллиптичности K _{э min} фазовой пластины.