Приложение А (обязательное). Циклы испытаний и число образцов, используемых для проверки соответствия настоящему стандарту

Приложение А
(обязательное)

Циклы испытаний и число образцов, используемых для проверки соответствия настоящему стандарту

А.1 Проверка соответствия

Используют следующие циклы испытаний:

- производителем в целях декларации поставщику;

- независимым сертификационным органом.

Для вилок типовые испытания проводят согласно ЕС 60884-1, ЕС 60309-1 или ЕС 60309-2 в зависимости от исполнения.

Для автомобильных разъемов типовые испытания проводят согласно ЕС 62196-1.

Типовое испытание согласно соответствующему государственному стандарту также допустимо.

А.2 Циклы испытаний

Испытания проводят согласно таблице А.1 с проведением испытаний в рамках каждого цикла в указанном порядке.

Таблица А.1 - Циклы испытаний

Цикл испытаний		Раздел, подраздел, пункт или подпункт	Испытание (или проверка)
А		6	Маркировка
			Общие a)
		9.3	Стойкость маркировки
		9.22	Натяжение проводников
		9.23	Момент, прилагаемый IC-CPD к стационарным штепсельным розеткам
		8.5.3	Степень защиты функциональных блоков
		9.4	Защита от поражения электрическим током
		9.11	Теплостойкость
		8.4.3	Зазоры и расстояния пути утечки
		9.19	Трекингостойкость
		9.12	Стойкость к аномальному нагреву и огнестойкость
В	B 1	9.5	Испытание электрической прочности диэлектрика
	В 2	9.6	Превышение температуры
		9.17.2	Надежность при 45 °С
		9.18	Старение
		9.20	Испытание штырей, оснащенных изолирующей оплеткой
		IEC 61851-1:2017, таблица А.4	Испытания управляющего устройства
С	C 1	9.9.3	Коммутационная способность вилки IC-CPD
		9.8	Механическая и электрическая прочность
		9.21	Механическая прочность не твердых штырей вилок
		9.24	Испытания анкерных креплений кабеля
		IEC 61851-1:2017, таблица А.4	Одно испытание случайно выбранного управляющего устройства
	С 2  b)	9.24	Испытания анкерных креплений кабеля
	С 3  b)	9.25	Испытание IC-CPD с несменяемым кабелем на изгиб
D	D 0	9.7	Рабочие характеристики, 9.7.7 проводят в конце цикла испытаний
	D 1	9.14	Функционирование в случае потери напряжения питания
		9.16	Нежелательное расцепление
		9.9.2.3	Функционирование при
		9.13	Проверка функциональности устройства дифференциального тока автоматизированной диагностикой
		9.10	Стойкость к механическому толчку и удару
		9.15	Неотключающий ток в условиях сверхтоков
		9.27	Испытания, заменяющие проверки расстояний пути утечки и зазоров
		9.28	Проверки отдельных электронных компонентов, используемых в IC-CPD
Е		9.9.2.4 а)	Координация при I nc
		9.9.2.2	Функционирование при I m
		IEC 61851-1:2017, таблица А.4	Одно испытание случайно выбранного управляющего устройства
F		9.9.2.4 b)	Координация при I m
		9.9.2.4 с)	Координация при
		IEC 61851-1:2017, таблица А.4	Одно испытание случайно выбранного управляющего устройства
G		9.35	Испытание хранения в условиях пониженной температуры
		9.17.1	Надежность (климатические испытания)
		IEC 61851-1:2017, таблица А.4	Одно испытание случайно выбранного управляющего устройства
H f)		IEC 61543:1995 и IEC 61543:1995/AMD1:2004 d), таблица 4 - Т1.1	Гармоники, промежуточные гармоники
		IEC 61543:1995 и IEC 61543:1995/AMD1:2004 d), таблица 4 - Т1.2	Сигнальное напряжение
		IEC 61543:1995 и IEC 61543:1995/AMD1:2004 d), таблица 5 - Т2.3	Проводимые однонаправленные переходные процессы временной шкалы, мс и мкс
I		IEC 61543:1995 и IEC 61543:1995/AMD1:2004 d), таблица 5 - T2.1c и Т2.5	Проводимые колебательные напряжения или токи
		IEC 61543:1995 и IEC 61543:1995/AMD1:2004 d), таблица 5 - Т2.2	Проводимые однонаправленные переходные процессы по шкале времени нс, (бросок): - 2 кВ (пик); - Tr/Th 5/50 нс; - частота повторения 5 кГц или 100 кГц, как указано производителем
J		IEC 61543:1995 и IEC 61543:1995/AMD2:2005 d), таблица 5 - Т2.6 с)	Кондуктивные общие помехи в диапазоне частот ниже 150 кГц
		IEC 61543:1995 и IEC 61543:1995/AMD1:2004 d), таблица 6 - Т3.1	Электростатические разряды
K		9.30	Испытание на нагрев солнечным излучением
L		9.31	УФ-излучение
М		9.32	Влага и солевой туман
N		9.34	Наезд транспортным средством
О		IEC 61851-1:2017, таблица А.4 9.29	Контроллер управления Химические нагрузки
Р		9.36	Испытание стойкости к вибрациям и динамическим нагрузкам
a) Раздел "Общие" состоит из проверок и измерений, определенных в 8.1, 8.2 и 8.3. Отдельные испытания согласно данным подразделам могут проводиться в любом удобном месте в рамках цикла испытания А. b) Применимо к устройствам с несменяемым кабелем. c) Использование уровней испытания для IC-CPDs на 30 мА. d) При любом упоминании "PRCDs/SRCD" в IEC 61543 эти аббревиатуры воспринимают как "IC-CPD". f) Для устройств с генератором колебаний непрерывного действия испытания по CISPR 14-1 проводят с образцами до проведения в рамках данного цикла.

А.3 Число образцов, которые необходимо предоставить для проведения методики испытаний в полном объеме

Если предоставляется на испытания только один тип IC-CPD с одним номиналом тока и одним номиналом отключающего дифференциального тока, то число образцов передаваемых на испытания в других циклах должно соответствовать требованиям таблицы А.2, в которой также определены минимальные критерии функционирования.

Если все образцы, переданные на испытания согласно второму столбцу таблицы А.2, проходят испытания, соответствие требованиям стандарта подтверждается. Если испытания успешно проходят только минимальное число образцов, указанное в третьем столбце, то должны быть испытаны и успешно пройти цикл испытаний все дополнительные образцы, как показано в четвертом столбце, должны быть испытаны и все они должны успешно пройти цикл испытаний.

Примечание - Для испытаний на нагрев по 9.6 может потребоваться специально подготовленный образец с отключенной цепью расцепления.

Таблица А.2 - Число образцов, которые необходимо передать для проведения методики испытаний в полном объеме

Цикл испытаний a)	Число образцов	Минимальное число переданных образцов b)	Число образцов для повторных испытаний c)
А	1	1	-
B 1 d)	3	2	3
B 2  е)	3	2	3
С 1 k) (только 9.9.3 и 9.8)	3	2	3
C 2 f)	3	2	3
C 3  f)	3	2	3
D 0 f), g), k)	3	2	3
D 1 h), l)	3	2	3
E f), i), k), l)	3	2	3
F f), i), k), l)	3	2	3
G	3	2	3
H f), j), k)	3	2	3
I f), j), k)	3	2	3
J f), j), k)	3	2	3
K	3	2	3
L	3	2	3
M	3	2	3
N	3	2	3
O	3	2	3
P	3	2	3
a) Допускается повторить не более трех циклов испытаний. b) Предполагается, что образец, который не прошел испытание, не отвечает требованиям ввиду производственного брака или дефектов сборки, не являющихся репрезентативными для конструкции. c) В случае повторных испытаний все испытания должны быть успешной пройдены. d) Требуется специально подготовленный образец с электроникой, которая не подвергается воздействию импульсов. е) Для испытаний на нагрев защитного проводника может потребоваться специально подготовленный образец с отключенной цепью расцепления. f) По запросу производителя испытания проводят только на одном (или двух) комплекте образцов. g) Дополнительный образец требуется для испытания при минус 25 °С или испытания при более низкой температуре. h) Если в целях испытания требуется демонтаж, может потребоваться еще один образец. В этом случае производитель должен поставить образцы, которые могут быть подготовлены специально. i) Новые образцы можно использовать для испытаний I nc. j) По запросу производителя один комплект образцов может быть подвергнут нескольким испытаниям из данного цикла. k) Если IC-CPD относится к нескольким классам по 4.1, то для каждого класса должен быть передан дополнительный комплект образцов. Применяют данные критерии приемлемости. l) Для IC-CPD с несменяемым встроенным плавким предохранителем требуется второй комплект образцов, см. 9.9.2.1 f).

А.4 Число образцов, передаваемых на упрощенные испытания в случае одновременной передачи спектра IC-CPD с одинаковой базовой конструкцией

А.4.1 Если на оценку соответствия передают спектр IC-CPD с одинаковой базовой конструкцией или дополнения к таким IC-CPD, число образцов, подлежащих испытаниям, может быть сокращено согласно таблице А.3.