Приложение Г (справочное). Метод определения морфологической характеристики алмазов для технических целей

Приложение Г
(справочное)

Метод определения морфологической характеристики алмазов для технических целей

Г.1 Сущность метода

Сущность метода определения морфологической характеристики алмазов для технических целей заключается в визуальном рассмотрении алмазов с целью определения основных морфологических типов алмазов для технических целей (целые кристаллы различных кристаллографических форм, обломки) и подсчета их количества.

Г.2 Отбор проб алмазов для технических целей

Г.2.1 Для испытаний и контроля отбирают пробы алмазов для технических целей одной размерности (в условных ситовых классах) согласно 6.5.

Г.2.2 Отобранную пробу взвешивают согласно 6.6.

Г.3 Аппаратура и материалы

Для проведения испытаний и контроля применяют:

- микроскоп МБС-10 с увеличением не менее 14 ^х в проходящем свете с встроенной в один из окуляров шкалой;

- стекло предметное по ГОСТ 9284;

- кальку бумажную натуральную по ГОСТ 892;

- шпатель металлический по ГОСТ 19126;

- иглу препарировальную по ГОСТ 19126.

Г.4 Подготовка к проведению контроля

Г.4.1 От пробы алмазов для технических целей отбирают точечным методом от 200 до 300 алмазов. Отобранные алмазы помещают на предметное стекло и разравнивают в один слой так, чтобы они не перекрывали друг друга.

Г.4.2 Устанавливают увеличение микроскопа 14 ^х.

Г.5 Проведение контроля

Перемещают предметное стекло под микроскопом и определяют последовательно морфологический тип каждого алмаза, исключая их повторный контроль.

Контролю подлежат не менее 100 алмазов.

Г.6 Обработка результатов

Г.6.1 Подсчитывают количество алмазов каждого морфологического типа (октаэдров, кубов, прочих целых кристаллов, обломков) и определяют его долю, %, по формулам:

,

(Г.1)

,

(Г.2)

,

(Г.3)

,

(Г.4)

где Ок, К, Пр, Об - доля октаэдров, кубов, прочих целых кристаллов и обломков, проконтролированных в пробе алмазов для технических целей, %;

, , , - число октаэдров, кубов, прочих целых кристаллов и обломков, подсчитанных под микроскопом, в пробе алмазов для технических целей, шт.;

Q - общее число кристаллов различных морфологических типов, проконтролированных в пробе алмазов для технических целей, шт.

Полученные значения округляют до целого количества процентов, при этом сохраняемую, значащую цифру величины при округлении увеличивают на единицу, если отбрасываемая цифра неуказываемого младшего разряда более либо равна пяти, и не изменяют, если она менее пяти.