Дата введения-2008-07-01
1 РАЗРАБОТАН Санкт-Петербургским филиалом Федерального государственного унитарного предприятия "Научно-технический центр "Атлас" (СПбФ ФГУП "НТЦ "Атлас"), Федеральным государственным учреждением "Государственный научно-исследовательский испытательный институт проблем технической защиты информации Федеральной службы по техническому и экспортному контролю" (ФГУ "ГНИИИ ПТЗИ ФСТЭК России"), Федеральным государственным унитарным предприятием "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений" (ФГУП "ВНИИОФИ"), Объединенным институтом высоких температур РАН, Закрытым акционерным обществом "ЭМСОТЕХ" (ЗАО "ЭМСОТЕХ"), Федеральным государственным унитарным предприятием "Научно-исследовательский институт импульсной техники" (ФГУП НИИИТ), Федеральным государственным унитарным предприятием "Проектный институт" Федеральной службы безопасности Российской Федерации (ФГУП "Проектный институт" ФСБ России, Московским государственным институтом электроники и математики (МГИЭМ), Закрытым акционерным обществом "Научно-производственное объединение "ФИД-Техника" (ЗАО "НПО "ФИД-Техника")
2 ВНЕСЕН Управлением технического регулирования и стандартизации Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 27 декабря 2007 г. N 515-ст
4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Если вы являетесь пользователем интернет-версии системы ГАРАНТ, вы можете открыть этот документ прямо сейчас или запросить по Горячей линии в системе.