Optical instruments for surface roughness parameters measuring. Basis parameters and types
Дата введения 1 января 1981 г.
Настоящий стандарт распространяется на оптические приборы (далее - приборы), действие которых основано на принципе одновременного преобразования профиля поверхности, предназначенные для измерения параметров R_max, Rz и S по ГОСТ 2789-73, а также устанавливает типы и основные параметры оптических приборов при визуальных измерениях параметров шероховатости при помощи отсчетного устройства.
Требования к величине линейного поля зрения (табл. 4, 5 и 6), а также требования пп. 2.1, 2.2.1-2.2.3, 2.4.1-2.4.3, 2.7 и 2.8 настоящего стандарта являются обязательными, другие требования - рекомендуемыми.
(Измененная редакция, Изм. N 2).
1. Типы
Типы приборов устанавливаются следующие:
ПТС - прибор теневого сечения;
ПСС - прибор светового сечения;
МИИ - микроскоп интерференционный измерительный, действие которого основано на двулучевой интерференции света;
МПИ - микроскоп-профилометр интерференционный, действие которого основано на интерференции света с образованием полос равного хроматического порядка.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2. Основные параметры
2.1. Диапазон измерений параметров шероховатости приборами должен соответствовать или находиться внутри пределов измерений, указанных в табл. 1.
Таблица 1
Тип прибора |
Параметр шероховатости |
Пределы измерений |
ПТС |
Rz, R_max |
40-320 мкм |
S |
0,2-1,6 мм |
|
ПСС |
Rz, R_max |
0,5-40 мкм |
S |
0,002-0,5 мм |
|
МИИ |
Rz, R_max |
0,05-0,8 мкм |
S |
0,002-0,05 мм |
|
МПИ |
Rz, R_max |
0,05-0,8 мкм |
Примечание. Допускается изготовлять приборы специального назначения с диапазоном измерения, выходящим за пределы, указанные в табл. 1.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2.2. Основные параметры приборов типов ПТС и ПСС должны соответствовать указанным в табл. 2 и в пп. 2.2.1-2.2.3.
Термины, используемые в стандарте, и их определения указаны в приложении 2.
Таблица 2
Диапазон измерения параметров Rz и R_max, мкм |
Линейное поле зрения, мм, не менее |
Увеличение объектива с дополнительной линзой, крат, не менее |
Апертура объектива |
Общее увеличение микроскопа, крат, не более |
От 40 до 320 |
8 |
1 |
0,03 |
32 |
0,05 |
32 |
|||
От 10 до 40 |
2,5 |
4 |
0,1 |
80 |
0,12 |
60 |
|||
0,15 |
60 |
|||
От 4 до 10 |
0,8 |
10 |
0,2 |
200 |
0,3 |
160 |
|||
От 1,6 до 4 |
0,8 |
12,5 |
0,4 |
260 |
0,45 |
200 |
|||
От 0,5 до 1,6 |
0,25 |
32 |
0,5 |
750 |
0,6 |
520 |
2.2.1. Номинальные значения характеристик объективов в приборах типа ПСС в проектирующем микроскопе и микроскопе наблюдения должны быть одинаковыми для каждого диапазона измерений.
2.2.2. Номинальное значение угла между оптическими осями микроскопов должно быть 90°.
2.2.3. Отклонение от прямолинейности изображения края тени или щели в пределах линейного поля зрения не должно превышать 5 мкм в фокальной плоскости окуляра.
2.3; 2.3.1. (Исключены, Изм. N 1).
2.4. Основные параметры приборов типа МИИ должны соответствовать указанным в табл. 5 и пп. 2.4.1-2.4.3.
Таблица 5
Диапазон измерения параметров Rz и R_max, мкм |
Линейное поле зрения, мм, не менее |
Апертура объектива |
Общее увеличение микроскопа, крат, не более |
От 0,1 до 0,8 |
0,25 |
0,3 |
400 |
0,5; |
670 |
||
0,65 | |||
От 0,05 до 0,4 |
0,25 |
0,85; |
1120 |
0,95 | |||
От 0,05 до 0,1 |
0,08 |
0,95; |
2500 |
1,25 |
2.4.1. Искривление интерференционных полос в поле зрения в направлении измерения не должно быть более 0,1 полосы для диапазона измерения от 0,1 до 0,8 мкм и 0,05 полосы для диапазона измерения от 0,05 до 0,1 мкм.
2.4.2. Смещение интерференционных полос в поле зрения не должно быть более чем на одну полосу в течение 15 мин через 1 ч после включения прибора.
2.4.3. Предел допускаемой погрешности аттестации эффективной длины волны источника монохроматического излучения - 2 нм.
2.5. Основные параметры приборов типа МПИ должны соответствовать указанным в табл. 6.
Таблица 6
Наименование параметра |
Пределы измерения параметров Rz и R_max, мкм |
|
от 0,1 до 0,8 |
от 0,05 до 0,5 |
|
Апертура объектива, не менее |
0,5 |
|
Линейное поле зрения, мм, не менее |
0,25 |
|
Общее увеличение прибора, не менее |
300 |
500 |
Обратная линейная дисперсия диспергирующей системы для ламбда_D, нм/мм, не более |
60 |
30 |
Предел разрешения диспергирующей системы для ламбда_D, нм, не более |
0,35 |
0,2 |
Число интерференционных полос равного хроматического порядка в рабочей части поля зрения |
5 |
3 |
Смещение интерференционных полос равного хроматического порядка в поле зрения в течение 15 мин через 1 ч после включения в долях полосы, не более |
1 |
2.6. Увеличение при фотографировании должно обеспечивать фотографирование участка поверхности, соответствующего линейному полю зрения, указанному в табл. 2, 3, 5, 6.
2.7. Характеристики относительной погрешности для приборов типов ПТС, ПСС, определяемые по параметру R_max на поверхности образцовых мер, не должны превышать значений, указанных в табл. 7.
Таблица 7
Диапазон измерения параметра R_max, мкм |
Базовая длина, мм |
Предел допускаемой систематической составляющей погрешности, %, для типов |
Предел допускаемого среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности, %, для типов |
Предел допускаемой суммарной погрешности среднего трех измерений, %, для типов |
ПТС, ПСС |
ПТС, ПСС |
ПТС, ПСС |
||
Св. 160 до 320 |
8 |
2,0 |
0,5 |
2,5 |
Св. 80 до 160 |
8 |
2,5 |
1,0 |
3,5 |
Св. 40 до 80 |
8 |
3,0 |
1,7 |
5,0 |
Св. 30 до 40 |
2,5 |
3,2 |
1,7 |
5,5 |
Св. 20 до 30 |
2,5 |
3,6 |
2,0 |
6,5 |
Св. 10 до 20 |
2,5 |
4,0 |
3,5 |
8,5 |
Св. 6,3 до 10 |
0,8 |
5,0 |
4,5 |
10,0 |
Св. 3,2 до 6,3 |
0,8 |
7,0 |
6,5 |
14,0 |
Св. 1,6 до 3,2 |
0,8 |
9,0 |
8,0 |
20,0 |
Св. 0,63 до 1,6 |
0,25 |
12,0 |
10,0 |
24,0 |
Св. 0,5 до 0,63 |
0,25 |
16,0 |
12,0 |
30,0 |
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2.8. Характеристики относительной погрешности приборов типов МИИ и МПИ, определяемые по параметру R_max, не должны превышать значений, указанных в табл. 8.
Таблица 8
Тип прибора |
Диапазон измерения параметров R_max, мкм |
Базовая длина, мм |
Апертура объектива |
Предел допускаемой систематической погрешности, % |
Предел допускаемого среднего квадратического отклонения случайной погрешности, % |
Предел допускаемой суммарной погрешности трех измерений, % |
МИИ |
Св. 0,4 до 0,8 |
0,25 |
0,3 |
20 |
5 |
24 |
От 0,5 до 0,65 |
14 |
5 |
18 |
|||
От 0,85 до 0,95 |
10 |
5 |
15 |
|||
МПИ |
0,5 |
14 |
5 |
18 |
||
МИИ |
Св. 0,1 до 0,4 |
0,25 |
От 0,5 до 0,65 |
30 |
10 |
40 |
От 0,85 до 1,25 |
20 |
10 |
30 |
|||
МПИ |
0,5 |
18 |
10 |
30 |
||
МИИ |
Св. 0,05 до 0,1 |
0,08 |
От 0,95 до 1,25 |
30 |
20 |
50 |
МПИ |
0,5 |
10 |
20 |
35 |
Если вы являетесь пользователем интернет-версии системы ГАРАНТ, вы можете открыть этот документ прямо сейчас или запросить по Горячей линии в системе.
Государственный стандарт Союза ССР ГОСТ 9847-79 "Приборы оптические для измерения параметров шероховатости поверхности. Типы и основные параметры" (утв. постановлением Госстандарта СССР от 29 августа 1979 г. N 3261)
Текст ГОСТа приводится по официальному изданию Госстандарта России, Издательство стандартов, 1993 г.
Дата введения 1 января 1981 г.
1. Разработчики:
А.Н. Кузнецов, А.А. Кучин
2. Утвержден и введен в действие постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29 августа 1979 г. N 3261
3. Срок проверки - 1995 г., периодичность - 5 лет
4. Ссылочные нормативно-технические документы
Обозначение НТД, на который дана ссылка |
Номер пункта |
5. Проверен в 1991 г. Ограничение срока действия снято постановлением Государственного комитета СССР по управлению качеством продукции и стандартам от 23 апреля 1991 г. N 551
6. Переиздание (декабрь 1992 г.) с Изменениями N 1, 2, утвержденными в декабре 1986 г., апреле 1991 г. (ИУС 3-87, 7-91)