Приложение N 1. Структура технического комитета по стандартизации ТК "Зондовая и пучковая диагностика"

Приложение N 1
к приказу Федерального агентства по
техническому регулированию и
метрологии
от 11 июля 2012 г. N 495

Структура технического комитета по стандартизации ТК "Зондовая и пучковая диагностика"

Наименование ТК (ПК)	Организация, на базе которой создается ТК (ПК), реквизиты связи	Соответствующие ТК (ПК), КК МКМВ, ИСО, МЭК, МОЗМ	Область деятельности
1	2	3	4
ТК "Зондовая и пучковая диагностика"	Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (ОАО "НИЦПВ") Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1 Председатель ТК - директор ОАО "НИЦПВ", профессор Тодуа П.А. Тел.: +7 495 935 97 77 e-mail: fgupnicpv@mail.ru Заместитель председателя ТК - заместитель генерального директора по научной работе ОАО "НИЦПВ", профессор Гавриленко В.П. Тел.: +7 495 935 97 77 e-mail: fgupnicpv@mail.ru Ответственный секретарь ТК - научный сотрудник ОАО "НИЦПВ" Шаронов В.А. Тел.: +7 495 935 97 77 e-mail: sharonovva@gmail.ru	ТК ИСО 201 "Химический анализ поверхности"; ТК ИСО 202 "Микропучковый анализ"; ТК ИСО 24 "Характеризация частиц, включая просеивание", ПК-4 "Характеризация частиц".	Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектроскопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии, растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и нейтральных частиц, дифракции электронных пучков, а также методик характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а также электроакустических и электрокинетических явлений. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.140, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100
ПК 1 "Зондовая диагностика"	Национальный исследовательский университет "Московский физико-технический институт" (МФТИ), Адрес: 141700, Московская обл., г. Долгопрудный, Институтский пер., дом 9 тел. +7 495 408 57 00 E-mail: sam@mail.mipt.ru Председатель ПК 1 - Заместитель декана факультета физической и квантовой электроники МФТИ, к.ф.-м.н. Заблоцкий Алексей Васильевич Тел.: +7 495 408 59 66 e-mail: zalexx@gmail.com	ТК ИСО 201 "Химический анализ поверхности"	Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе сканирующей зондовой микроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, профилометрии, оптической спектроскопии, эллипсометрии и рефлектометрии, рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии, лазерной интерферометрии, электронной спектроскопии. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100
ПК 2 "Пучковая диагностика"	Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума" (ОАО "НИЦПВ") Адрес: 119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1 Председатель ПК 2 - Заместитель генерального директора по научной работе ОАО "НИЦПВ", профессор Гавриленко Валерий Петрович Тел.: +7 495 935 97 77 e-mail: fgupnicpv@mail.ru	ТК ИСО 202 "Микропучковый анализ"	Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений параметров поверхности и материалов на основе растровой и просвечивающей электронной микроскопии, энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии, электронно-зондового микроанализа, на основе использования пучков ионов и нейтральных частиц, дифракции электронных пучков. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100
ПК 3 "Измерения и характеризация поверхности, материалов и частиц"	ООО "Метрологический центр РОСНАНО" (ООО "МЦ РОСНАНО") Адрес: 117036, Москва, 60-летия Октября пр-т, 10А тел. +7 495 988 53 38 E-mail: info@rusnano-mc.com Председатель ПК 3 - Генеральный директор ООО "МЦ РОСНАНО", член-корреспондент РАН Иванов Виктор Владимирович тел. +7 495 988 53 38 E-mail: viktor.ivanov@rusnano.com	ТК ИСО 24 "Характеризация частиц, включая просеивание", ПК-4 "Характеризация частиц"	Разработка документов по стандартизации в области метрологии: методик калибровки и поверки средств измерений; терминов и определений; методик измерений и характеризации поверхности, материалов и частиц на основе оптических методов, методов ультразвуковой спектроскопии, методов, основанных на использовании механических, ионных и электронных зондов, а также электроакустических и электрокинетических явлений. Метрологическое и нормативное обеспечение и обслуживание реализации работ по ОКС 17.020, ОКС 17.040, ОКС 17.180, ОКС 17.220, ОКС 17.240, ОКС 19.100