Национальный стандарт РФ ГОСТ Р 56649-2015
"Техника ракетно-космическая. Электронная компонентная база иностранного производства. Порядок применения"
(утв. приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 октября 2015 г. N 1590-ст)
Space-rocket hardware. Electronic components of foreign manufacture. Order of application
Дата введения - 2016-05-01
1 Разработан Открытым акционерным обществом "Российская корпорация ракетно-космического приборостроения и информационных систем" (ОАО "Российские космические системы")
2 Внесен Техническим комитетом по стандартизации ТК 321 "Ракетно-космическая техника"
3 Утвержден и введен в действие приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 20 октября 2015 г. N 1590-ст
4 В настоящем стандарте учтены основные нормативные положения следующих стандартов Европейского космического агентства, военных стандартов США, стандарта организации JEDEC и нормативного документа NASA:
- ECSS-Q-ST-60C "Обеспечение качества продукции космического назначения. Электротехнические, электронные и электромеханические компоненты" ("Space product assurance. Electrical, electronic and electromechanical (EEE) components", NEQ)
- ECSS-Q-ST-60-14C "Обеспечение качества продукции космического назначения. Повторное подтверждение качества и надежности ЭКБ после хранения" ("Space product assurance. Relifing procedure - EEE components", NEQ)
- MIL-PRF-38535 "Технические требования к производству интегральных микросхем. Общая спецификация" ("Performance specification. Integrated Circuits (Microcircuits) Manufacturing, General Specification For", NEQ)
- MIL-PRF-38534 "Технические требования к гибридным микросхемам. Общая спецификация" ("Performance Specification. Hybrid Microcircuits, General Specification For", NEQ)
- MIL-PRF-19500 "Технические требования к полупроводниковым приборам. Общая спецификация" ("Performance Specification Semiconductor Devices, General Specification For", NEQ)
- JESD370B "Система обозначений полупроводниковых приборов" ("Designation System for Semiconductor Devices", NEQ)
- EEE-INST-002 "Выбор, отбраковка, квалификация и снижение рабочих нагрузок компонентов ЭКБ" ("Instructions for EEE Parts Selection. Screening, Qualification, and Derating", NEQ)
5 Введен впервые
Если вы являетесь пользователем интернет-версии системы ГАРАНТ, вы можете открыть этот документ прямо сейчас или запросить по Горячей линии в системе.