Приложение В (обязательное). Подготовка образцов для измерений

Приложение В
(обязательное)

Подготовка образцов для измерений

В.1 Для измерений методом объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте, методом при фиксированной длине резонатора и методом объемного резонатора в закритическом режиме измеряемый образец выполняют в форме диска.

Для резонаторов, применяемых в диапазоне частот от 8 до 12 ГГц, геометрические размеры, требования к форме и шероховатости поверхностей образцов следующие:

     - диаметр образца, мм                                 ;

     - отклонения   от    параллельности   и     плоскостности   торцевых

поверхностей образца по ГОСТ 24643, мм, не более..        0,02;

     - отклонение от перпендикулярности оси боковой поверхности   образца

к торцевым поверхностям по ГОСТ 24643, мм, не более.       0,02;

     - шероховатость торцевых поверхностей образца по ГОСТ 2789, параметр

  , мкм, не более..0,2.

В.2 Для метода объемного резонатора при фиксированной резонансной частоте предпочтительны образцы полуволновой и кратной ей толщины. Толщину образца вычисляют по формуле

,

(В.1)

= 1, 2, 3 - число полуволн на толщине образца (при полуволновой толщине ),

- длина волны в свободном пространстве на частоте измерений, мм;

- приближенное значение диэлектрической проницаемости образца;

- радиус резонатора, мм.

Толщину дискового образца измеряют в девяти точках, указанных на рисунке В.1 со стандартной неопределенностью не более 0,005 мм, оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. За толщину образца принимают среднее арифметическое.

Рисунок В.1 - Расположение точек для определения толщины дискового образца

Для резонаторов, применяемых в других диапазонах частот (см. приложение Б), требования к форме и шероховатости поверхностей образцов, а также по измерению их толщины соответствуют приведенным в В.1 и В.2.

В.3 Для измерений методом щелевого резонатора образец выполняют в форме тонкого диска, пластины или используют диэлектрические подложки.

В зависимости от частоты измерения и соответствующих размеров резонатора (см. приложение Б) изготовляют образцы, площадь которых перекрывает резонансную полость.

Требования к форме и шероховатости образцов в форме дисков, а также по измерению их толщины соответствуют приведенным в В.1 и В.2.

Шероховатость и непараллельность поверхностей подложек должны соответствовать требованиям нормативно-технических документов на подложки.

Требования к форме и шероховатости поверхностей образцов в форме пластин аналогичны.

Толщину образца в форме пластины (подложки) измеряют в круговой контролируемой области в соответствии с рисунком В.1 со стандартной неопределенностью не более 0,005 мм, оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. За толщину образца принимают среднее арифметическое.

В.4 Для измерений методом МДР образец выполняют в форме цилиндра диаметром D, мм и высотой L, мм исходя из соотношений

,

(B.2)

,

(B.3)

где

, - верхние и нижние границы приближенно известного значения ;

f - низшая частота диапазона измерения, ГГц.

Требования к форме и расположению поверхностей образцов соответствуют приведенным в В.1.

Измерение диаметра проводят в средней части по высоте образца в трех направлениях с поворотом образца на угол ~60°. Измерение высоты образца проводят в центре и четырех точках, равномерно расположенных по окружности образца. Измерения высоты и диаметра проводят со стандартной неопределенностью не более 0,005 мм, оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. За диаметр и высоту образца принимают средние арифметические значения.

В.5 Диаметр стержневого образца измеряют на трех уровнях, равномерно расположенных по длине стержня в двух ортогональных плоскостях в соответствии с рисунком В.2 со стандартной неопределенностью не более 0,005 мм, оцениваемой по типу В в соответствии с ГОСТ Р 54500.3. За диаметр образца принимают среднее арифметическое.

Рисунок В.2 - Расположение точек для определения диаметра стержневого образца

В.6 Обработка образцов при их подготовке к измерениям не должна изменять свойства материала.

В.7 Нормализацию и кондиционирование образцов для всех методов измерений проводят по ГОСТ 6433.1.