Приложение Б (обязательное). Дополнительное испытание на сферическую рефракцию и астигматизм на малых участках смотровых элементов без корригирующего эффекта

Приложение Б
(обязательное)

Дополнительное испытание на сферическую рефракцию и астигматизм на малых участках смотровых элементов без корригирующего эффекта

Б.1 Общие положения

Б.1.1 Метод испытания на сферическую рефракцию и астигматизм смотровых элементов с применением зрительной трубы по 5.1 позволяет получить средние значения сферической рефракции и астигматизма в пределах участка диаметром 20 мм, дополнительный метод - в пределах участка диаметром 5 мм (составляющим средний размер зрачка глаза) с точностью измерения дптр.

Принципиальная схема дополнительного метода испытания на сферическую рефракцию и астигматизм на малых участках смотровых элементов приведена на рисунке Б.1.

Рисунок Б.1 - Принципиальная схема дополнительного метода испытания на сферическую рефракцию и астигматизм на малых участках смотровых элементов

При прохождении параллельных световых лучей 1 и 2 на разной высоте через испытуемый смотровой элемент со сферическими поверхностями эти лучи пересекаются в задней фокальной плоскости смотрового элемента на расстоянии от задней главной плоскости смотрового элемента. Сферическая рефракция смотрового элемента составляет значение, равное 1/, дптр.

В смотровом элементе СИЗ глаз с разной кривизной поверхности в двух взаимно перпендикулярных направлениях или при наклонном падении световых лучей на сферическую поверхность возникает астигматизм.

В случае отклонения осевого луча 1 на угол после прохождения через смотровой элемент он будет обладать призматическим действием , прдптр, вычисляемым по формуле

.

(Б.1)

Если отклонение луча света измерять в некоторой плоскости на расстоянии S от смотрового элемента, то сферическая рефракция 1/, дптр (см. рисунок Б.1), может быть вычислена по формуле

.

(Б.2)

Призматическое действие (см. рисунок Б.1) вычисляют по формуле

.

(Б.3)

Астигматизм равен разности рефракций по двум главным меридиональным сечениям.

Б.2 Требования к средствам измерения, испытательному и вспомогательному оборудованию

Б.2.1 Блок-схема установки для испытания на сферическую рефракцию и астигматизм на малых участках смотровых элементов приведена на рисунке Б.2.

Б.2.1.1 В качестве источника излучения применяют гелий-неоновый лазер 1 длиной волны излучения = (600 70) нм, световой диаметр пучка излучения лазера от 0,6 до 1,0 мм.

Б.2.1.2 Две линзы 2 и 4 с диафрагмой 3 в их общем фокусе служат для расширения пучка излучения лазера до 5 мм (номинальный размер зрачка глаза).

Б.2.1.3 Каретка K применяется для плавного перемещения испытуемого смотрового элемента по спиральной траектории в плоскости, перпендикулярной к направлению пучка излучения лазера. Каретка перемещается по двум взаимно перпендикулярным направлениям, сохраняя положение своей оси и оптической оси испытуемого смотрового элемента постоянным в период измерения.

Палец, ведомый спиралью Сп, передает движение на каретку K. Шаг спирали - 1,08 мм.

Рисунок Б.2 - Блок-схема установки для испытания на рефракцию и астигматизм на малых участках испытуемых смотровых элементов

Б.2.1.4 Пучок излучения лазера диаметром 5 мм должен непрерывно сканировать поверхность испытуемого смотрового элемента и находиться в пределах контролируемого участка смотрового элемента диаметром 20 мм. Периферийная зона шириной 5 мм по краям смотрового элемента должна быть исключена из испытаний.

Б.2.1.5 Для измерения отклонения пучка излучения лазера применяют позиционно-чувствительный фотодиод, принципиальная схема которого приведена на рисунке Б.3.

Примечание - В качестве фотодиода может быть применен фотодиод типа PIN SC 25.

Рисунок Б.3 - Позиционно-чувствительный фотодиод и схема его включения

В фотодиоде типа PIN SC 25 с помощью пяти электродов реализована прямоугольная система координат (х, у), позволяющая регистрировать положение пучка излучения лазера относительно испытуемого смотрового и его отклонение.

При освещении участка, соответствующего выводу 5, фототок электродов 1 - 4 одинаков. При перемещении светового пятна по светочувствительной поверхности фотодиода фототок электродов 1 - 4 изменяется в зависимости от расположения светового пятна относительно центра, соответствующего электроду 5. Разность потенциалов на выводах по одной оси системы координат пропорциональна смещению светового пятна в