Приложение (рекомендуемое). Методы планиметрирования

Приложение
Рекомендуемое

Методы планиметрирования

Для измерения площади рекомендуется пользоваться математическими приборами, например, планиметрами типа Амслера.

Возможно использование ручных методов планиметрирования, указанных ниже.

1. Линейный метод

1.1. На планиметрируемую площадь наносят параллельные линии. Расстояние между соседними параллельными линиями должно быть одинаковым.

Точность планиметрирования тем больше, чем меньше расстояние между соседними параллельными линиями. Рекомендуемое расстояние между соседними параллельными линиями - 1 мм.

Примечание. Наносить параллельные линии на планиметрируемую площадь можно карандашом или другим инструментом на микрофотографии или на матовом стекле микроскопа или проектора, а также наложением заранее изготовленного шаблона на тонкую прозрачную пленку.

1.2. Измеряют суммарную длину всех нанесенных параллельных линий, оказавшихся внутри планируемой площади, линейкой или курвиметром.

1.3. Величину планиметрируемой площади () в миллиметрах вычисляют по формуле

,

где - суммарная длина всех параллельных линий, мм;

- расстояние между соседними параллельными линиями, мм;

- увеличение (линейное).

2. Сеточный метод

2.1. На планиметрируемую площадь наносят мелкую равномерную сетку. Точность планиметрирования тем больше, чем мельче сетка. Рекомендуется сетка с квадратными ячейками размером 141 мм.

Примечание. Наносить сетку рекомендуется путем наложения на микрофотографию или на матовое стекло микроскопа или проектора заранее изготовленного шаблона на тонкой прозрачной пленке (палетки).

2.2. Подсчитывают число ячеек сетки, оказавшихся внутри планиметрируемой площади. Ячейки, пересеченные границей планиметрируемой площади, считают за целые в том случае, если половина или более половины их площади находится внутри планиметрируемой площади; если менее половины площади ячейки находится внутри планиметрируемой площади, то данную ячейку не считают.

2.3. Величину планиметрируемой площади () в вычисляют по формуле

,

где - количество ячеек сетки внутри планиметрируемой площади, шт.;

- площадь одной ячейки сетки, ;

- увеличение (линейное).

3. Весовой метод

3.1. Планиметрируемую площадь вырезают из микрофотографии, отпечатанной на фотопленке, масса 1 которой точно определена.

Точность планиметрирования тем больше, чем точнее и аккуратнее вырезана планиметрируемая площадь.

3.2. Взвешивают вырезанную планиметрируемую площадь на аналитических весах.

Примечание. Определение массы 1 и взвешивание вырезанной площади должно быть произведено на фотопленке одной и той же партии и толщины, проявленной, отфиксированной, промытой и просушенной в одних и тех же условиях.

3.3. Величину планиметрируемой площади () в вычисляют по формуле

,

где - масса вырезанной планиметрируемой площади, г;

- масса 1 фотопленки, г;

- увеличение (линейное).