Приложение С (справочное). Интерпретация результатов испытания многощуповой системы

Приложение С
(справочное)

Интерпретация результатов испытания многощуповой системы

С.1 Сопоставление результатов испытания многощуповой системы с E₀ и E_L

Согласно ИСО 10360-2 измерение каждой длины выполняют одним щупом в одной ориентации. Поэтому общее расстояние, проходимое КИМ при каждом измерении, близко к соответствующей измеряемой длине. Найденные погрешности измерения длины Е₀ и E_L, как правило, зависят от значения измеряемой длины, коротким длинам обычно соответствуют меньшие погрешности. Однако большинство из описанных в настоящем стандарте измерений выполняют посредством КИМ с многощуповой системой. При измерении многощуповой системой элемента детали, имеющего небольшую длину, общая величина выполняемого КИМ перемещения необязательно так же мала (см. рисунок С.1).

а - длина хода КИМ; b - измеряемая длина

Рисунок С.1 - Пример измерения, в котором измеряемая длина мала по сравнению с длиной хода КИМ

Таким образом, погрешности измерения при применении многощуповой системы могут превысить соответствующие измеряемой длине установленные максимальные допустимые погрешности E₀ и E_L. Измерение разными щупами близко расположенных геометрических элементов может иметь большие погрешности. Кроме того, для многощуповых систем характерны значительные величины смещения наконечника щупа. Сравнивая E₀ с Е_L, можно заметить, что эти смещения могут увеличивать погрешности измерения.

С.2 Влияние расстояния L_р между образцовой и поверочной сферами

Вследствие геометрических погрешностей КИМ (включая остаточные погрешности, обусловленные несовершенством системы компенсации), расстояние между образцовой и поверочной сферами L_р может сильно влиять на результат испытания. Если это расстояние мало, то многие погрешности КИМ компенсируются посредством калибровки, поэтому характеристики зондирующей системы оказываются доминирующими. При большом расстоянии между образцовой и поверочной сферами доминирующими могут стать геометрические погрешности КИМ.

Технические требования, соответствующие малому значению L_p, отображают характеристики системы при измерении малых геометрических элементов вблизи образцовой сферы.

Технические требования, соответствующие большому значению L_p, отображают характеристики системы при измерении малых геометрических элементов вдали от образцовой сферы.

Результаты испытания, полученные при малом значении L_p, предпочтительны для сравнения характеристик разных многощуповых зондирующих систем, т.к. в этом случае геометрические погрешности КИМ не являются доминирующими.