Если вы являетесь пользователем интернет-версии системы ГАРАНТ, вы можете открыть этот документ прямо сейчас или запросить по Горячей линии в системе.
Текст документа представлен в информационных целях. Представление настоящего документа в ЭПС "Система ГАРАНТ" не является официальным изданием
ГОСТ Р 8.659-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Средства измерений характеристик ультрафиолетового излучения при технологическом контроле в нанофотолитографии. Методика поверки
Утвержден Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 15.12.2009 г. N 972-ст
Введен в действие 01.01.2011 г.
Действует
Стандарт распространяется на средства измерений (СИ) характеристик ультрафиолетового (УФ) излучения, используемые при технологическом контроле в нанофотолитографии, и устанавливает методику их первичной и периодической поверок.
Опубликован: Стандартинформ, 2010 год
Разработчик: ФГУП ВНИИОФИ
Включен в перечни:
1. Указатель 2015. Национальные стандарты. Том 1
2. Указатель 2015. Национальные стандарты. Том 3
3. Указатель 2014. Национальные стандарты. Том 1
4. Указатель 2014. Национальные стандарты. Том 3
5. Указатель 2016. Национальные стандарты. Том 1
6. Указатель 2016. Национальные стандарты. Том 3
7. Указатель 2015. Нормативные документы в области метрологии
8. Указатель 2016. Нормативные документы в области метрологии
9. Указатель 2017. Национальные стандарты. Том 3
10. Указатель 2017. Национальные стандарты. Том 1
11. ИУС 5-2010. Информационный указатель стандартов
12. Указатель 2017. Перечень нормативных документов в области метрологии (действующих в Российской Федерации по состоянию на 1 января 2017 г.)
13. Указатель 2018. Национальные стандарты. Том 1
14. Указатель 2018. Национальные стандарты. Том 3
15. Указатель 2018. Перечень нормативных документов в области метрологии (действующих в Российской Федерации по состоянию на 1 января 2018 г.)
16. Указатель 2019. Национальные стандарты. Том 1
17. Указатель 2019. Национальные стандарты. Том 3
18. Указатель 2020. Документы в области метрологии (по состоянию на 1 января 2020 г.)