Вход
ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Национальный стандарт РФ ГОСТ Р 8.696-2010
"Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра"
(утв. приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 10 февраля 2010 г. N 10-ст)
State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Methods for measurement by means of an electron diffractometer
Дата введения - 2010-09-01
1 Разработан Открытым акционерным обществом "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума", Федеральным государственным учреждением "Российский научный центр "Курчатовский институт", Государственным учреждением Российской академии наук "Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова" и Государственным образовательным учреждением высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)"
2 Внесен Техническим комитетом по стандартизации ТК 441 "Нанотехнологии и наноматериалы"
3 Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 10 февраля 2010 г. N 10-ст
4 Введен впервые
Откройте актуальную версию документа прямо сейчас
Если вы являетесь пользователем интернет-версии системы ГАРАНТ, вы можете открыть этот документ прямо сейчас или запросить по Горячей линии в системе.
Текст документа представлен в информационных целях. Представление настоящего документа в ЭПС "Система ГАРАНТ" не является официальным изданием
Национальный стандарт РФ ГОСТ Р 8.696-2010
"Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра"
(утв. приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 10 февраля 2010 г. N 10-ст)
State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Methods for measurement by means of an electron diffractometer
Дата введения - 2010-09-01
1 Разработан Открытым акционерным обществом "Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума", Федеральным государственным учреждением "Российский научный центр "Курчатовский институт", Государственным учреждением Российской академии наук "Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова" и Государственным образовательным учреждением высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)"
2 Внесен Техническим комитетом по стандартизации ТК 441 "Нанотехнологии и наноматериалы"
3 Утвержден и введен в действие Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 10 февраля 2010 г. N 10-ст
4 Введен впервые